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本文主要描述了如何解決基于超聲波倒車?yán)走_(dá)的輻射干擾測量問題。在開始的基于CISPER 25 第四類窄帶輻射測量中，該設(shè)備在530KHz-2MHz這個頻段測試沒通過合規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。
此倒車?yán)走_(dá)由一個帶有蜂鳴器的控制器和兩個雷達(dá)模塊組成。接線主要包含連接控制器的主供電線纜以及控制器與兩個雷達(dá)模塊之間的通信及供電線纜。
由圖可見，紅色線表示CISPER 25第四類的模板*，藍(lán)色線表示實測譜線。在530KHz到1.1MHz的頻段范圍內(nèi)，測量出的輻射干擾超出了模板的*。同時，我們還測試了將連接雷達(dá)模塊線纜斷開的情況，發(fā)現(xiàn)仍然通不過標(biāo)準(zhǔn)。
分析
分析上圖的譜線我們可以得到一些信息：在低頻范圍內(nèi)，該設(shè)備的輻射噪聲是超出標(biāo)準(zhǔn)的，我們假定引起這個問題的，是一個低頻的數(shù)字信號。
相對較寬的頻譜，不含離散的譜線，意味著該超標(biāo)的頻譜噪聲來源很可能是來自于控制器本身或者控制器和雷達(dá)模塊之間的串行接口。
正如我們之前提到的，斷開控制器和雷達(dá)模塊之間的線纜，測試也沒通過，所以我們初步認(rèn)為，引起這個超標(biāo)的源頭在于控制器。
實測
頻譜分析儀，近場探頭，結(jié)合恒電磁波傳輸小室（簡稱TEM小室，Transverse Electromagnetic Transmission Cell）能作為識別輻射干擾根源的基本工具。本次測試我們采用鼎陽科技SSA3021X頻譜分析儀和選配的近場探頭以及TekBox的TEM小室。
首先我們打開頻譜分析儀然后設(shè)置如下：
SPAN設(shè)置為530KHz到2MHz；RBW設(shè)置為9KHz，衰減設(shè)置為0dB，顯示設(shè)置為電壓平均；打開頻譜儀標(biāo)配的預(yù)置放大器，并選用正峰值檢波器，測試結(jié)果如下:
在以上設(shè)置參數(shù)參考的情況下，顯示平均噪聲電平（DANL，Displayed Average Noise Floor）大約在-20dBμV 左右，這個指標(biāo)在同級別的頻譜儀中算是非常好的。 然而，我們還是需要考慮到在這個頻段范圍內(nèi)可能會有AM廣播信號的干擾。
接下來我們連接空的TEM小室，驗證以上猜想，顯示頻譜如下：
正如我們預(yù)想的那樣，在530KHz到1.1MHz這個頻段內(nèi)，基本被廣播信號填滿了（圖中可見的尖峰毛刺）。接下來我們需要弄清楚，待測設(shè)備DUT（Device Under Test）的輻射泄放的幅值在TEM空載的幅值之上還是之下。
DUT設(shè)置
接下來，將包括電纜和雷達(dá)模塊的DUT放置在TEM小室內(nèi)并通電：
在頻譜儀中設(shè)置跡線跟蹤為大保持，此時結(jié)果如下：
我們可以從圖中的波峰軌跡大致看出來，結(jié)果基本與初次在吸波暗室中測量的結(jié)果是相符的，盡管在此頻段范圍內(nèi)有一些AM廣播信號的干擾（圖中可見的一些毛刺）。
從圖中也可以看出，我們利用TEM小室測出的幅值大約比在吸波暗室中測得的結(jié)果低20dBμV左右。
然后同樣地，我們將和雷達(dá)連接的線纜移除，發(fā)現(xiàn)和之前在吸波暗室的測量結(jié)果一致，仍然未通過標(biāo)準(zhǔn)。
PS：為了簡便起見，線纜仍然和控制器保持物理連接，但已移動到TEM小室隔膜的另一端。
令人驚奇的是，我們發(fā)現(xiàn)，移除線纜降低了DUT的輻射噪聲：
移除線纜可以使輻射噪聲降低11dBμV左右。事實上，我們并未拆除線纜，但兩個雷達(dá)模塊已經(jīng)斷開連接。這也解釋了為什么譜線的波峰的相對幅度在吸波暗室和TEM小室的測量結(jié)果有所不同。線纜是直著放在吸波暗室中的，但在TEM小室中，它是卷曲的。
結(jié)論
移除線纜可以明顯觀察到DUT輻射噪聲的降低。盡管如此，即使我們移除兩個雷達(dá)線纜，測量結(jié)果仍然顯示未通過。事實上，在去掉雷達(dá)模塊的情況下，控制器也會不斷嘗試通過串行線纜進(jìn)行通信----并且不會超時。因此，我們推測，連接雷達(dá)模塊和控制器之間的串行通信接口很有可能是導(dǎo)致該輻射噪聲超標(biāo)的罪魁禍?zhǔn)住榱蓑炞C我們的猜想，我們需要對通信接口做一些過濾。
由于鎳鋅鐵氧體磁導(dǎo)率比較低，在低頻段的使用性能不高，因此我們決定在線纜中串聯(lián)電阻。這算是一種非常實用的辦法，因為PCB上已經(jīng)安裝了0歐姆的串聯(lián)電阻。通過用1K歐姆的電阻替換0歐姆的電阻可以使輻射噪聲降低到12dBμV左右。但是，導(dǎo)致的結(jié)果卻是串行接口沒法可靠地工作在zhi定的電壓范圍內(nèi)。所以，我們還需要調(diào)整晶體管串行電路中的一些其他電阻，以解決輻射噪聲超標(biāo)問題，同時也能保證串行接口的性能。進(jìn)行了一些修改并重新測量之后，結(jié)果顯示如下：
為了更清楚地展示這個變化，我們重新設(shè)置了頻譜儀的SPAN，使得其剛好在兩個相鄰的廣播頻道之間，意味著測量的頻譜結(jié)果幾乎沒有AM廣播信號的干擾。
如下是在修改之前的屏幕截圖：
通過截圖可知，修改后的輻射噪聲水平下降了12dBμV。
經(jīng)過修改后，我們重新在暗室進(jìn)行了測量，以下是終測量結(jié)果的截圖：
利用頻譜儀和TEM小室來做輻射噪聲測試是一種非常經(jīng)濟實用的方法。要知道，專門用于EMC一致性測試的吸波暗室造價成本高達(dá)幾百萬，即使是送到專門的機構(gòu)測試， 也需要多次整改和測試，費用也不菲。
輻射噪聲一般具有相對較寬的頻譜范圍，沒有尖銳的波峰。盡管有一些廣播電臺的頻譜干擾，頻譜儀和TEM小室也能很好地對設(shè)備的輻射噪聲進(jìn)行測試和觀察。
利用EMC近場探頭可以定位和識別PCB上的輻射泄露源，頻譜儀結(jié)合TEM小室可以對整改后的設(shè)備進(jìn)行多次測試， 以判斷其是否符合EMC規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)。在對多個獨立單元以及線纜互聯(lián)的設(shè)備進(jìn)行測試時也是非常實用的。
改進(jìn)倒車?yán)走_(dá)這個案例需要進(jìn)行多次反復(fù)整改才能找到既滿足EMC合規(guī)性標(biāo)準(zhǔn)，又能符合產(chǎn)品實際功能要求的理想解決方案。如果我們在每次整改之后，都要送到的暗室進(jìn)行測量的話，成本是非常高昂的，遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過我們購買頻譜儀和TEM小室的預(yù)算。
